【干貨】低壓硼擴(kuò)散爐工藝研究
1、前言:
隨著環(huán)境問(wèn)題及能源問(wèn)題的日益嚴(yán)峻,人類對(duì)于清潔再生能源的關(guān)注達(dá)到了新的高度。太陽(yáng)能作為最具潛力的可再生能源之一,太陽(yáng)能發(fā)電池技術(shù)日趨成熟,不斷發(fā)展,高效電池的效率記錄不斷刷新,各種不同技術(shù)路線的高效電池百花齊放。近兩年,由于工藝成本的下降及工藝技術(shù)的成熟,P-PERC電池逐漸成為國(guó)內(nèi)市場(chǎng)高效太陽(yáng)電池的主流,包括單/雙面的單晶PERC,黑硅多晶PERTC等,但P型電池的效率瓶頸及光衰問(wèn)題【1】也是p-PERC電池發(fā)展無(wú)法避免的障礙,因此國(guó)內(nèi)光伏行業(yè)對(duì)各種更高效率前景以及無(wú)光衰的高效N型電池的關(guān)注程度,研發(fā)投入不斷增加,N型電池的市場(chǎng)份額也有一定的增長(zhǎng)。
N型硅片內(nèi)部沒(méi)有B-O復(fù)合對(duì),光致衰減較P型硅片大幅改善【2】,且其少子為帶正點(diǎn)的空穴,一些常見(jiàn)的金屬離子例如Fe+,Cu+,Ni+對(duì)其體壽命的影響較小,N型硅片的少子壽命往往高于P型硅片。另外,N型電池組件還具有弱光響應(yīng)好,溫度系數(shù)低等優(yōu)點(diǎn)!3】但N型電池的市場(chǎng)份額一直較小主要原因還是技術(shù)成本及設(shè)備成本仍然較高。
目前,常見(jiàn)的N型電池主要有四種:N-PERT,N-TopCon,IBC,HIT。其中IBC和HIT的最高效率分別可以達(dá)到24.2%和25.6%【4】,但由于其工藝復(fù)雜,量產(chǎn)成本高,在市場(chǎng)占據(jù)上短期內(nèi)毫無(wú)優(yōu)勢(shì)。反而是近年來(lái)雙面N-PERT及N-TopCon的工藝難度不斷下降,設(shè)備與P型電池兼容度高以及關(guān)鍵設(shè)備的國(guó)產(chǎn)化,市場(chǎng)份額不斷增加,短期內(nèi)或迎來(lái)爆發(fā)。
圖1 普通N型雙面電池的結(jié)構(gòu)示意圖
普通N型雙面電池的結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示,圖中正反面的鈍化層可以選擇不同的材料,常見(jiàn)的包括Al2O3,SiO2,SiO2+Al2O3,α-Si等。
在N型電池整個(gè)工藝流程中,PN結(jié)制備的質(zhì)量是決定電池效率的關(guān)鍵步驟。目前,N型的PN結(jié)制備技術(shù)即摻雜硼技術(shù)主要有四種:管式BBr3擴(kuò)散,旋涂硼源+擴(kuò)散,APCVD硼源+擴(kuò)散,離子注入+退火,其中管式BBr3擴(kuò)散由于工藝難度低,性價(jià)比高,能有效避免金屬離子污染,少子壽命高等特點(diǎn)而成為主流的硼摻雜技術(shù),但常壓的BBr3擴(kuò)散爐在工藝生產(chǎn)過(guò)程中有很多問(wèn)題仍需要解決!5-8】
常壓硼擴(kuò)散預(yù)沉積過(guò)程中,由于反應(yīng)產(chǎn)物B2O3的沸點(diǎn)在1600℃以上,擴(kuò)散過(guò)程中始終處于液態(tài),只能以大量氮?dú)庀♂尫稚⒎植嫉焦杵砻,擴(kuò)散均勻性難于控制!9】反應(yīng)產(chǎn)物B與B2O3對(duì)石英器件的腐蝕嚴(yán)重,在恒溫區(qū)外快速冷卻凝固,易造成尾管堵塞,引起常壓擴(kuò)散石英爐門與石英爐管的粘連,維護(hù)成本高。
針對(duì)常壓硼擴(kuò)的以上問(wèn)題,借鑒低壓磷擴(kuò)爐較常壓磷擴(kuò)爐的一些優(yōu)勢(shì)表現(xiàn),本次實(shí)驗(yàn)在低壓硼擴(kuò)散爐進(jìn)行相關(guān)工藝實(shí)驗(yàn)以尋求一些問(wèn)題的解決途徑,設(shè)備選用北方華創(chuàng)低壓硼擴(kuò)散系統(tǒng)。
2、低壓硼擴(kuò)散系統(tǒng)原理
低壓軟著陸擴(kuò)散結(jié)構(gòu)原理圖如圖2所示:
圖2 低壓軟著陸擴(kuò)散系統(tǒng)原理圖
引入變頻隔膜真空泵,在工藝過(guò)程中,隨著工藝氣量的變化,腔室始終穩(wěn)定在一定的低壓條件,在石英管內(nèi)形成了穩(wěn)定的氣流方向。BBr3進(jìn)入反應(yīng)腔室后,在850-900℃條件下,與氧氣反應(yīng)生產(chǎn)的液態(tài)B2O3在N2的稀釋及氣流的作用下均勻的分布到硅片表面作為摻雜源。與常壓硼擴(kuò)散工藝相比,在沉積和推進(jìn)過(guò)程之前增加抽真空及檢漏步,開(kāi)爐門前需要增加充氣步,而這些都是在進(jìn)舟關(guān)爐門升溫過(guò)程及出舟前的降溫過(guò)程同步進(jìn)行,總工藝時(shí)沒(méi)有額外增加。工藝可調(diào)節(jié)的參數(shù)增加了泵壓力,源瓶壓力等,各種工藝氣體的變化對(duì)工藝結(jié)果的影響與常壓工藝相比也發(fā)生了變化,因此各這些工藝參數(shù)的變化對(duì)低壓硼擴(kuò)工藝的影響需要進(jìn)行重新摸索,同時(shí)也可以比較低壓與常壓工藝的差異。
3、工藝相關(guān)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
同樣的工藝框架,即工藝步數(shù)及時(shí)間固定,低壓硼擴(kuò)散工藝可調(diào)節(jié)的參數(shù)包括溫度,泵壓力,源瓶壓力,各種反應(yīng)氣體的量及比例。由于與硅原子大小的差異,硼的熱擴(kuò)散過(guò)程較常見(jiàn)的磷熱擴(kuò)散要困難,硼的熱擴(kuò)散方阻結(jié)果隨溫度的變化不是很敏感,且溫度的變化對(duì)常壓及低壓硼擴(kuò)工藝的影響基本相同。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中就攜源氮?dú)饬髁,源瓶壓力,氮(dú)饬髁,泵壓力?duì)方阻及均勻性的影響進(jìn)行了相關(guān)研究。為了解決石英件壽命及粘結(jié)問(wèn)題,進(jìn)行了在線濕氧清洗實(shí)驗(yàn)。
低壓工藝參數(shù)基準(zhǔn)條件為:850-900℃通源20分鐘進(jìn)行預(yù)沉積,950-1000℃進(jìn)行45分鐘推進(jìn)。預(yù)沉積步源瓶壓力為500-950mbar,氧氣流量為100-2000sccm,攜源氮?dú)饬髁繛?00-800sccm,氮?dú)饬髁繛?0-18slm,反應(yīng)壓力為400-800mbar。
3.1、源流量
在低壓硼擴(kuò)基準(zhǔn)條件下,只改變攜源氮?dú)獾牧髁浚^察攜源氮?dú)饬髁糠謩e為500sccm,400sccm,300sccm,200sccm,100sccm時(shí)對(duì)擴(kuò)散方阻及均勻性的影響。
從圖3中可以看出,隨著源流量的不斷減小,總體平均方阻不斷增大,主要由于攜源氮?dú)饬枯^小后,進(jìn)入反應(yīng)腔室的源濃度不斷減低,單位時(shí)間沉積到硅片表面的摻雜源減少,硅片表面方塊電阻變大。
圖3 平均方阻及片間均勻性與攜源氮?dú)饬康年P(guān)系
源流量為300sccm時(shí),片間均勻性較其他條件達(dá)到最佳。為了更好的研究片間均勻性變化的原因,我們測(cè)試了每種源流量條件下,工藝爐管五個(gè)區(qū)域的方阻平均值及片間均勻性。
表1 不同源流量條件下,不同溫區(qū)硅片方阻最大值、最小值、均值以及片內(nèi)均勻性情況
從表1中可以看出,當(dāng)源流量大于300sccm時(shí),爐尾區(qū)域方阻較其他位置明顯下降,與口中區(qū)域方阻均值相差較大,導(dǎo)致片內(nèi)均勻性變差。在測(cè)試方阻過(guò)程中也發(fā)現(xiàn)爐尾區(qū)域硅片中心點(diǎn)方阻較四周明顯偏低,主要是由于工藝腔體采用尾端進(jìn)氣,口端出氣,源流量增大后,爐尾區(qū)域源濃度明顯增高。當(dāng)源流量小于300sccm時(shí),爐口區(qū)域方阻較其他位置明顯上升,當(dāng)減小到100sccm時(shí),爐口和口中方阻異常,測(cè)試過(guò)程中表現(xiàn)為中心點(diǎn)方阻嚴(yán)重偏高,主要是由于源流量大量減小后,大部分源在爐尾及尾中區(qū)域反應(yīng)消耗,靠近爐口的區(qū)域源濃度偏低,這些區(qū)域的硅片只能在四周部分得到部分摻雜源,中心位置的摻雜源更低,導(dǎo)致中心點(diǎn)方阻異常偏高,片內(nèi)均勻性明顯變差。因此在工藝調(diào)試過(guò)程中,為了得到合適的片內(nèi)及片間方阻,源濃度一定要適當(dāng)。
3.2、源瓶壓力
源瓶壓力是低壓硼擴(kuò)獨(dú)有的可調(diào)參數(shù)之一,同樣在低壓硼擴(kuò)基準(zhǔn)條件下,只改變攜源源瓶壓力的大小,觀察源瓶壓力分別為850mbar,800mbar,750mbar,700mbar,650mbar時(shí)對(duì)擴(kuò)散方阻及均勻性的影響。
工藝中源瓶壓力數(shù)值代表源瓶出氣端的壓力,溫度一定時(shí),壓力越高,源瓶蒸發(fā)量越小,同樣的攜源氮?dú)鈹y帶的源量越多,反之則越少。
圖4 平均方阻及片內(nèi)均勻性均值與源瓶壓力的關(guān)系
從圖4中可以看出,隨著源瓶壓力的減小,進(jìn)入反應(yīng)腔室的源增多,平均方阻越小,在750mbar時(shí),片內(nèi)均勻性平均最佳。隨著源瓶壓力的變化,平均方阻值變化不是很大,但片內(nèi)均勻性變化明顯,因此在工藝調(diào)試過(guò)程中,需要綜合考慮攜源氮?dú)夂驮雌繅毫Φ那闆r。另外,源濃度過(guò)高時(shí),容易在硅片的表面形成大量硼硅合金的富硼層,不易在后續(xù)清洗工藝去除,從而帶來(lái)EL不良和效率偏低等問(wèn)題!10】
3.3、氮?dú)饬髁?/strong>
在低壓硼擴(kuò)基準(zhǔn)條件下,只改變氮?dú)獾牧髁浚^察氮?dú)饬髁糠謩e為11slm,13slm,,14.5slm,16slm,17slm時(shí)對(duì)擴(kuò)散方阻及均勻性的影響。
圖4 平均方阻及片內(nèi)均勻性均值與源瓶壓力的關(guān)系
氣體條件一定時(shí),壓力減小,氣體分子的自由程增加,低壓條件下,硼擴(kuò)散的工藝氣體分子自由程較常壓條件下會(huì)明顯增加,同樣會(huì)帶動(dòng)液態(tài)B2O2分子的運(yùn)動(dòng),但對(duì)于熱擴(kuò)散摻雜,B2O2分子比重任然較大,除了在低壓條件及氣流的帶動(dòng)下,還需要大量的氮?dú)鈱⑦M(jìn)入爐管的硼源稀釋,吹散稀釋以及攜帶擴(kuò)散到離進(jìn)氣槍更遠(yuǎn)的位置。因此低壓硼擴(kuò)工藝過(guò)程中氮?dú)饬髁侩m然叫常壓工藝有所減少,但任然較大,不同于低壓磷擴(kuò)工藝過(guò)程中的氮?dú)饬枯^常壓磷擴(kuò)大幅減少。
從圖4中可以看出,氮?dú)鈴?7slm不斷減小到13slm時(shí),反應(yīng)氣體中的源比例增加,同樣的爐管壓力條件下,爐管中的源濃度增加,平均方阻減小,但氮?dú)鈴?3減小到11時(shí),平均方阻反而增加,這是由于氮?dú)鉂舛冗^(guò)少時(shí),硼源無(wú)法擴(kuò)散到爐口區(qū)域,大部分的源沉積在爐管后段的硅片或石英管下面,爐管前段的硅片由于無(wú)法得到充足的源,方阻異常升高,尤其是爐口區(qū)域的硅片中心點(diǎn)方阻明顯偏高,導(dǎo)致平均方阻值增大,片內(nèi)及片間均勻性變差。
因此在工藝調(diào)試過(guò)程中,氮?dú)獾牧渴鞘种匾墓に噮?shù),太低時(shí),除了方阻各向指標(biāo)不合格,過(guò)多的源會(huì)停留在石英管后段,加速石英件的腐蝕以及石英件的粘連。氮?dú)饬髁窟^(guò)大時(shí),氣體進(jìn)入石英管時(shí)流速過(guò)快,爐尾部分源濃度會(huì)大量減低,硅片中心點(diǎn)方阻易偏高,爐口部分的氣流會(huì)更加混亂,過(guò)量的氮?dú)馔瑫r(shí)也會(huì)增加真空系統(tǒng)的負(fù)擔(dān)。
3.4、反應(yīng)壓力
反應(yīng)壓力是低壓硼擴(kuò)另外一個(gè)獨(dú)有的可調(diào)工藝參數(shù),在低壓硼擴(kuò)基準(zhǔn)條件下,只改變泵壓力的大小,觀察反應(yīng)壓力分別為700mbar,650mbar,550mbar,500mbar,400mbar時(shí)對(duì)擴(kuò)散方阻的影響。
圖5 平均方阻與反應(yīng)壓力的關(guān)系
實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),反應(yīng)壓力從550mbar正負(fù)變化50mbar時(shí),平均方阻變化不大,但反應(yīng)壓力從600mbar增加到700mbar時(shí),方阻有明顯的降低,由于此時(shí),抽速的降低,氣流的減弱同樣會(huì)導(dǎo)致大量摻雜源停留在爐管尾端,爐尾后端的硅片方阻會(huì)明顯降低,爐口區(qū)域硅片由于摻雜源不充足會(huì)出現(xiàn)中心點(diǎn)方阻偏高現(xiàn)象,總體方阻均值有了明顯的下降。反應(yīng)壓力從500mbar減小到400mbar時(shí),方阻有明顯的升高,由于抽速的增加,氣流的帶動(dòng)作用讓爐尾后端的硅片方阻明顯升高,爐口區(qū)域方阻變化不大,總體方阻同樣會(huì)明顯上升。
3.5、其他試驗(yàn)內(nèi)容
實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,為了獲得低壓硼擴(kuò)基準(zhǔn)工藝相同方阻平均值及結(jié)深,常壓工藝參數(shù)為:850-900℃通源20分鐘進(jìn)行預(yù)沉積,950-1000℃進(jìn)行45分鐘推進(jìn),預(yù)沉積氧氣流量為500-3000sccm,攜源氮?dú)饬髁繛?00-1200sccm,氮?dú)饬髁繛?0-30slm。通過(guò)低壓擴(kuò)散環(huán)境及精確的氣量,源量控制,在方阻45-100的范圍內(nèi),片內(nèi),片間,批間均勻性分別達(dá)到3%,3%,2%以內(nèi),與常壓硼擴(kuò)散相比,氧氣、源尤其是氮?dú)獾氖褂昧棵黠@下降。由于低壓條件下,反應(yīng)過(guò)程中大量的反應(yīng)產(chǎn)物被抽出石英管,石英件的使用壽命也會(huì)相應(yīng)延長(zhǎng)。另外低壓條件下,氧化均勻性更佳,有利于進(jìn)行一些擴(kuò)散后氧化處理,工藝窗口更廣。
B2O2在硼擴(kuò)工藝溫度范圍內(nèi)雖為液體,但與水結(jié)合生成的硼酸是以氣態(tài)存在,因此在每次工藝之后,可以向石英管內(nèi)通入適量攜帶H2O的氮?dú)庖詭ё郀t管內(nèi)吸附的B2O2以延長(zhǎng)石英件的使用壽命,減少相關(guān)粘連。但在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn),工藝結(jié)束后通入一段時(shí)間H2O后,下次同樣基準(zhǔn)工藝條件下,總體方阻會(huì)異常升高,均勻性明顯變差,可能是由于進(jìn)入石英管的H2O破壞了石英管的飽和狀態(tài)。后期實(shí)驗(yàn)在通入H2O后,會(huì)進(jìn)行一段時(shí)間的飽和,再運(yùn)行基準(zhǔn)工藝,發(fā)現(xiàn)方阻恢復(fù)正常,也初步驗(yàn)證了之前的猜想。因此為了不影響下次工藝的結(jié)果,通入石英管的H20量及時(shí)間還需進(jìn)一步摸索。
4、結(jié)論
本文通過(guò)研究源流量,源瓶壓力,氮?dú)饧胺磻?yīng)壓力對(duì)方阻及均勻性的影響,為低壓硼擴(kuò)散的工藝調(diào)試提供了一些思路和參考。同時(shí)通過(guò)與常壓工藝的對(duì)比,分析了低壓硼擴(kuò)散的一些優(yōu)勢(shì)。低壓硼擴(kuò)爐的有效在線清洗工藝及真空系統(tǒng)的維護(hù)問(wèn)題則要后續(xù)進(jìn)一步研究。
參考文獻(xiàn)
【1】Weizer V G,Brandhorst H W,Broder J D,et al.Photon-degradation effects in terrestrial silicon solar cells[J].Journal of Applied Physics,1979,50(6):4443-4449.
【2】Schmidt J,Bothe K,Hezel R.Formation and annihilation of the metastable defect in boron-doped Czochralski silicon[C]//Photovoltaic Specialists Conference,2002.Conference Record of the Twenty-Ninth IEEE.IEEE, 2002:178-181.
【3】Cuevas A,Kerr M J, Samundsett C,et al.Millisecond minority carrier lifetimes in n-type multicrystalline silicon[J].Applied Physics Letters,2002,81(26):4952-4954.
【4】Wolf S D,Choulat P,Szlufcik J,et al.Light-induced degradation of very low resistivity multi-crystalline silicon solar cells[C]//Photovoltaic Specialists Conference,2000.Conference Record of the Twenty-Eighth IEEE.IEEE,2000:53-56.
【5】Wolf S D,Choulat P,Szlufcik J,et al.Light-induced degradation of very low resistivity multi-crystalline silicon solar cells[C]//Photovoltaic Specialists Conference,2000.Conference Record of the Twenty-Eighth IEEE.IEEE,2000:53-56.
【6】Poulain G,Blanc D,F(xiàn)ocsa A,et al.Selective Laser Doping From Boron Silicate Glass[J].Energy Procedia,2012,27(7):455-459.
【7】Furuta Y,Kim R,Xia J,et al.Analysis of kink concentration during low temperature annealing of low energy implanted boron[J].Electronics&Communications in Japan,2010,85(5):29-34.
【8】Schn J,Abdollahinia A,Müller R,et al.Predictive Simulation of Doping Processes for Silicon Solar Cells ☆[J].Energy Procedia,2013,38:312-320.
【9】湯葉華.n--Si太陽(yáng)電池中的硼擴(kuò)散、表面鈍化及背發(fā)射極研究[D].中國(guó)科學(xué)院大學(xué),2013.
【10】龍騰江,徐冠群,楊曉生,&沈輝.(2015).濕法去除n型硅硼擴(kuò)散過(guò)程形成的富硼層.材料科學(xué)與工程學(xué)報(bào),33(1),9-12
發(fā)表評(píng)論
請(qǐng)輸入評(píng)論內(nèi)容...
請(qǐng)輸入評(píng)論/評(píng)論長(zhǎng)度6~500個(gè)字
圖片新聞
最新活動(dòng)更多
-
11月30日立即試用>> 【有獎(jiǎng)試用】愛(ài)德克IDEC-九大王牌安全產(chǎn)品
-
即日-12.5立即觀看>> 松下新能源中國(guó)布局:鋰一次電池新品介紹
-
即日—12.20點(diǎn)擊申報(bào)>> 維科杯·OFweek 2024(第三屆)儲(chǔ)能行業(yè)年度評(píng)選
-
限時(shí)免費(fèi)點(diǎn)擊下載>> 2024儲(chǔ)能產(chǎn)業(yè)搶占制高點(diǎn)發(fā)展藍(lán)皮書
-
2025年3月立即報(bào)名>>> 【線下會(huì)議】OFweek 2025(第五屆)儲(chǔ)能技術(shù)與應(yīng)用高峰論壇
-
2025年3月立即報(bào)名>> OFweek 2025新能源產(chǎn)業(yè)協(xié)同發(fā)展大會(huì)
推薦專題
-
7 光伏冬天里的春天
- 1 特朗普重返白宮,光伏行業(yè)迎來(lái)“寒冬預(yù)警”?
- 2 2024前三季度全球光伏組件出貨Top10出爐!
- 3 股價(jià)暴漲!華東重機(jī)業(yè)績(jī)逆流而上
- 4 天合由盈轉(zhuǎn)虧!光伏龍頭三季報(bào)業(yè)績(jī)大分化
- 5 華夏聚光破產(chǎn)、資產(chǎn)被拍賣,TCL中環(huán)是大股東
- 6 光伏“賣鏟人”三季報(bào)業(yè)績(jī)?nèi)飄紅
- 7 美國(guó)重審光伏關(guān)稅,中國(guó)光伏或迎利好
- 8 重磅!晶科推出TOPCon殺手锏,第三代Tiger Neo效率高達(dá)24.8%!
- 9 三季度巨虧的BC龍頭愛(ài)旭股價(jià)逆市上漲
- 10 出貨超390GW!2024年前三季度組件出貨量榜單出爐
- 高級(jí)軟件工程師 廣東省/深圳市
- 自動(dòng)化高級(jí)工程師 廣東省/深圳市
- 光器件研發(fā)工程師 福建省/福州市
- 銷售總監(jiān)(光器件) 北京市/海淀區(qū)
- 激光器高級(jí)銷售經(jīng)理 上海市/虹口區(qū)
- 光器件物理工程師 北京市/海淀區(qū)
- 激光研發(fā)工程師 北京市/昌平區(qū)
- 技術(shù)專家 廣東省/江門市
- 封裝工程師 北京市/海淀區(qū)
- 結(jié)構(gòu)工程師 廣東省/深圳市